home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ Space & Astronomy / Space and Astronomy (October 1993).iso / pc / text / jplnews2 / 1296.pr < prev    next >
Text File  |  1993-05-03  |  4KB  |  69 lines
  1. PUBLIC INFORMATION OFFICE
  2. JET PROPULSION LABORATORY
  3. CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY
  4. NATIONAL AERONAUTICS AND SPACE ADMINISTRATION
  5. PASADENA, CALIF. 91109. TELEPHONE (818) 354-5011
  6.  
  7. FOR IMMEDIATE RELEASE
  8.     The first international workshop on Ballistic Electron
  9. Emission Microscopy (BEEM) was held March 9 at NASA's Jet
  10. Propulsion Laboratory. The workshop was hosted by JPL's Center
  11. for Space Microelectronics Technology.
  12.     BEEM is a technique, based on scanning tunneling microscopy,
  13. that permits probing interfaces, boundaries between different
  14. materials, below the surfaces of semiconductors and metals.
  15.     The technique was invented at JPL in 1988 by Drs. William
  16. Kaiser and L. Douglas Bell and is currently in use or is being
  17. developed at dozens of laboratories around the world.
  18.     About 65 scientific representatives from the United States,
  19. Europe and the Far East attended the workshop. The format was
  20. informal with discussion of preliminary results and work in
  21. progress.
  22.     Kaiser presented the keynote address reviewing the
  23. development of BEEM at JPL. Other major research reports were 
  24. presented by Dr. Robin Williams of University of Wales at
  25. Cardiff, Dr. Young Kuk of AT&T Bell Laboratories, Dr. Rudy Ludeke
  26. of IBM, Dr. Hans Hallen of Cornell University, and Dr. Leo
  27. Schowalter of Rensselaer Polytechnic Institute.
  28.     The theoretical aspects of BEEM were discussed by Dr. L.
  29. Douglas Bell of JPL, Dr. Mark Stiles of the National Institute of
  30. Science and Technology, and Dr. L. Craig Davis of Ford ResearchLaboratories. The workshop was chaired by Dr. Michael Hecht of
  31. JPL.
  32.       BEEM is based on scanning tunneling microscopy, or STM,
  33. which won its creators the Nobel Prize in Physics in 1986. It
  34. enabled the imaging of metal and semiconductor surfaces at the
  35. resolution of an atom.
  36.     STM uses electron tunneling across a vacuum gap between an
  37. atom-sized probe tip and a target surface. This tunneling
  38. process only occurs when the tip is within about one nanometer
  39. (one billionth of a meter) of the surface. By holding the
  40. tunneling current constant and scanning the tip across the
  41. surface, the tip follows the surface without actually touching
  42. it, and an image at the resolution of an atom may be obtained.
  43.     BEEM uses an STM tip to inject a highly localized electron
  44. beam into a sample structure which has an interface below the
  45. surface. Electrons entering the structure propagate
  46. "ballistically," or without undergoing scattering or loss of
  47. energy, into the material a distance of 10 nanometers or more.
  48.     Analysis of the transmitted and reflected electron currents
  49. gives information on material quality and interface properties.
  50. By scanning the tip across the surface, not only is a surface
  51. image obtained as in conventional STM, but also an image of the
  52. electron transmission across the buried interface. The resolution
  53. of the probe is on the order of one nanometer.
  54.     BEEM, for the first time, allows detailed study of important
  55. device interfaces and it will impact the ability to manufacture
  56. novel electronic devices and detectors.
  57.  
  58.     The workshop was presented jointly by the JPL Center for
  59. Space Microelectronics Technology and the Southern California
  60. American Vacuum Society, with funding provided by the Strategic
  61. Defense Initiative Organization/Innovative Science and
  62. Technology Office, the Office of Naval Research, the Defense
  63. Advanced Research Projects Agency (DARPA), and the U.S. Army
  64. Laboratory Command.
  65. #####
  66. #1296
  67. 3/9/90jjd
  68.  
  69.